સાચું વિધાન/વિધાનો ઓળખો:

$Na$ (વર્ક ફંક્શન,$w_{0}=2.3 \ eV$) માંથી ફોટોઈલેક્ટ્રિક પ્રવાહને નીચેના કોષના આઉટપુટ વોલ્ટેજ દ્વારા અટકાવવામાં આવે છે:
$Pt_{(s)} | H_{2}(g, 1 \ bar) | HCl(aq, pH=1) | AgCl_{(s)} | Ag_{(s)}$
$K$ $(w_{0}=2.25 \ eV)$ માંથી ફોટોઈલેક્ટ્રિક પ્રવાહને અટકાવવા માટે જરૂરી જલીય $HCl$ નો $pH$,અન્ય તમામ પરિસ્થિતિઓ સમાન રહેતા,..........$\times 10^{-2}$ (નજીકના પૂર્ણાંકમાં) છે.
આપેલ છે,$2.303 \frac{RT}{F}=0.06 \ V; E_{AgCl|Ag|Cl^{-}}^{0}=0.22 \ V$

સાંદ્રતા કોષ: $Cu | Cu^{2+} (0.01 \ M) || Cu^{2+} (0.1 \ M) | Cu$ માટે,$E_{cell}$ ની ગણતરી કરો.

નીચેના કોષ માટે $298\,K$ તાપમાને $HCl$ દ્રાવણનો $pH$ ગણો: $Pt_{(s)} \mid H_2 \,(1\,bar) \mid HCl\,(xM) \parallel Cu^{2+}\,(0.02\,M) \mid Cu_{(s)}$. આપેલ છે કે પ્રમાણિત કોષ પોટેન્શિયલ $E^{\circ}_{cell} = 0.34\,V$ અને માપેલ કોષ પોટેન્શિયલ $E_{cell} = 0.45\,V$.

નીચેની કોષ પ્રક્રિયા ધરાવતા કોષ માટે પ્રમાણિત મુક્ત ઉર્જા ફેરફાર કેટલો છે ($kJ$ માં)?
$2 Ag_{(aq)}^{+} + Cd_{(s)} \longrightarrow 2 Ag_{(s)} + Cd_{(aq)}^{2+}, E^{\circ}_{cell} = 1.20 \ V$

જ્યારે શુદ્ધ હાઇડ્રોજન વાયુ $1 \ atm$ દબાણે હોય અને પ્લેટિનમ ઇલેક્ટ્રોડ $298 \ K$ તાપમાને $pH$ $1$ ધરાવતા $HCl$ દ્રાવણના સંપર્કમાં હોય,ત્યારે હાઇડ્રોજન ગેસ ઇલેક્ટ્રોડનો રિડક્શન પોટેન્શિયલ કેટલો હશે ($V$ માં)?